X射線衍射法是一種利用單色X射線光束照射到一顆晶體或眾多隨機(jī)取向的微小晶體來測(cè)量樣品分子三維立體結(jié)構(gòu)或特征X射線衍射圖譜的檢測(cè)分析方法。

　　

　　X射線衍射儀對(duì)單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)參數(shù)分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數(shù)測(cè)定（晶體結(jié)構(gòu)分析）、多晶X-射線衍射的指標(biāo)化以及晶粒尺寸和結(jié)晶度的測(cè)定等。可地測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標(biāo)化及點(diǎn)陣參數(shù)。

　　

　　X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構(gòu)成很相似，主要部件包括4部分。

　　

　　（1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。

　　

　?。?）樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。

　　

　?。?）射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。

　　

　?。?）衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),它們的特點(diǎn)是自動(dòng)化和智能化。

　　

　　應(yīng)用范圍：

　　

　　對(duì)材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計(jì)算；晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計(jì)算等。